型        號：S-4800
　　　生產(chǎn)廠(chǎng)家：日本日立
　　　性能指標：
　　　1. 二次電子分辨率：  ≤1.0nm（加速電壓15kV WD = 4mm）；≤2.0nm（加速電壓1kV WD = 1.5mm，普通模式）；≤1.4nm（照射電壓1kV，WD = 1.5mm，使用減速裝置）；
　　　2. 電子槍?zhuān)豪鋱?chǎng)發(fā)射電子源；
　　　3. 加速電壓：0.5~30 kV；
　　　4. 放大倍數： ×30~×800,000；
　　　5. 探測器：低位/高位二次電子探測器；
　　　6. 附件：離子濺射儀，X射線(xiàn)能譜儀，X射線(xiàn)能譜儀。
　　　主要應用：
　　　掃描電鏡主要用于生物樣品、納米材料、高分子材料、金屬材料、無(wú)機或有機材料等各種固體樣品的高分辨表面及截面形貌成像觀(guān)察，分辨率可達1 nm。能譜儀主要對樣品所含元素成分進(jìn)行分析。目前掃描電鏡和能譜儀已廣泛用于材料科學(xué)（納米材料、金屬材料、非金屬材料）、生物學(xué)、醫學(xué)、地質(zhì)勘探、災害（火災、失效分析）鑒定、刑事偵察、工業(yè)生產(chǎn)中的產(chǎn)品質(zhì)量鑒定及生產(chǎn)工藝控制等領(lǐng)域。
　　　我所掃描電鏡發(fā)射束流低并配備了電子束減速裝置，可以較大程度上減少樣品在電子束轟擊下的荷電效應，適合于一些不導電樣品和在電子束輻照下易損壞樣品（有機、高分子、生物樣品等）的表面高分辨成像。
　　　所內用戶(hù)可利用掃描電鏡進(jìn)行各種固體材料及生物樣品的高分辨成像和對其所含元素成分進(jìn)行分析。
　　　相關(guān)參考文獻：
　　　1. S. R. Nicewarner-Pen, R. G. Freeman, B. D. Reiss, et al. Science, 2001, 294, 137-141.
　　　2.  N. Sakamoto, Y. Seto, S. Itoh, et al. Science, 2007, 317, 231-233.
　　　儀器管理員：王文海
　　　聯(lián)系方式：0535-2109058（儀器室），0535-2109137（辦公室）